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1
、如果一个过程的数据分布图做出来后,有许多数据是超出
UCL/LCL
的,那这个过程是可
控的吗?或者
是稳定的吗?
(cpk
和
ppk
都很低,
1
不到点
)
,如下图
2
、还有一种,
USL/LSL
区间非
常大,但是实际的数据分布较集中,偏态的很严重,明显有很
多数据是属于小概率发生的
,
去掉这部分数据后形态就比较正了,
那这些数据要剔除吗?<
/p>
(
未
剔除的话
c
pk/ppk
大概
1.3
左右吧
)
,如下图
A
:
1.<
/p>
首先要弄清楚两个问题:
什么是
SPC<
/p>
;
使用
SPC
的
目的是什么。
我的理解就是一句话:
把某一过程的数据输出进行
统计、
分析进而控制和改进使该过程稳定受控。
什么是稳定受控
?
就是可以预测未来的趋势。
做
p>
SPC
管控先要有上中下控制线
(
UCL
、
CL
和
LCL
)
,
以这个控
制线为标杆,来看未来的过程
是否和这个标杆过程一致。那么控制线怎么来的,
是计算出来的,
怎么计算呢,具体可以看
SPC
手册。一般做均值极差控制图,计算的时候有几个关键点:
1.
子组,一般是连续不间隔
取件
5
件;
2.
子组频率,
一般一小时一次,子组的频率一定要仔细分析过程,确保过程是随
机的正态分布,也就是
说要保证人机料法环稳定;
3.
子组数,一般是
25
组,首次使用控制
图最好
35
组,以便到时调整;楼主您说到提到会漏发报警或者异常不会暴露出来这样的疑
p>
问,这就需要您做好子组频率的分析了,定了合理的频率不会漏发报警的。
< br>
这样就计算出来了上下控制线,
那么平时就按照你之前
算上下控制线是用的子组
&
子组频率
&
子组数的条件来获得数据。
那么怎么来用数据进行有用的分析呢
?这里就有好多原则或者条
件了。
控制图判断异常的准则有两条
:
1.
点出界就判断异常;
2.
界内点排列不随机判断异常。
稳定受控是生产过程追求的目标。那么如
何用控制图判断过程是否处于稳定受控呢?为此,
需要制定判断稳定的准则:
1.
连续
25
个点都在控
制界限内;
2.
连续
35
个点至多
1
个点落
在控制
界限外;
3.
连续
100
个点至多
2
个点落在控制界限外。知道了这个就知
道你过程稳
不稳定了。
那么如何来判
断过程异常呢?原则好多了,
不过正如一楼所说,
一般公司做好
这三点就很可
以了:
1.
超出管制界限
;
2.
连续六点上升或者下降;
3.<
/p>
连续七点在中心线同侧;
不过说实话,
做到前面
1
和
2
点还是可以的,
做到第
3
点的话说明说明制程非常好了
(具体
怎么好可以算
算
CPK
)
,一般情况下做好前两点就
可以了,如果客户规定必须做到这三点的
话:
一,
您可以看看当初这个项目量产时提交给客户的数据是什么样子的,
如果这些数
据满
足这
3
点就说明初始能力可以达到
,
只是后来能力减退了,
经过一番努力消除特殊原因和减
少普通原因后应该还是可以回到最初的水平的;
二,
< br>您也可以看看项目期间跟客户签的协议
里有没有规定过程能力指数
cpk
要达到多少,
如果有只能满足客户了,
如果没有而现在要做
到,那就意味着废品率变大,成本增加,
可以提议要求客户对这个项目增加投入了,从经济
上讲做到了公司也不划算
;
最后回答你的问题:
Q1.
你的
UCL
和
p>
LCL
是如何定出来的?从你的图中可以看出有多点超出控制线,这
肯定是不
可控。要得到更多的信息还是要在
SPC
图
;
Q2.
从图中可以看出你的上下公差定的有问题(过松),因为你的值都集中在一起了,很难
超出公差。你要剔除小概率的点算出来的是
CPK
,<
/p>
CPK
是看你的制程是否有能力;不剔除小
概率点算出来的是
PPK
,
PPK<
/p>
是看你的制程实际表现。控制图出来后,判异点需要找出原因
并改
善有效
(包括需要确定是否人为量测错误)
,
< br>剔除这些能改善的判异点后确定是否稳定,
仍然不稳定就必须从普通原因开始着手
,从设计、制程方面改进;如稳定,则计算
Cpk
,达
到
1.33
,表示制程稳定,达不到就是制程能
力不足。制程能力不足,可以从两个方面着手:
放大规格限或调整制程。
Q2
:
< br>请
教
,
我
现
在
使
用
的
XBAR-R
管
制
图
,
正
在
导
入
阶
段
,<
/p>
针
对
管
制
界
限
均
值
图
=XBAR+/-A
2
*RBAR
,
极差图
UCL=D4*R
BAR
极差图
LCL=D3*RB
AR
,
这个很多书上都这么写的,
我看
有的直接使用(
A
2
*RBAR
)
/3
算出西格玛值;那么还有一个就是均值
图管制界限
=XBAR+/-3*
西格玛,
极差图管制界限也是
=RBAR+/-3*
西格玛。
这两者算出来的值差很多,
但
两个公式都存在
,请教我分析用该用哪个,管制用又该用哪个?
A:
1
,
+/-
3Sig
ma
为控制图的理论基础(点落进这个界限的合格率:
99.7
3%
)
,不能用于
控制界限。
2
,控制界限:
X
平均值的平均值
+/- A
2
Rbar,
为设立的控制界限。
理论分析:均值±
3
标准差,实际计算:均值±
p>
A
2
Rbar
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