-
测
量
系
p>
统
分
析
M
S
A
方
法
集团标准化工作小组
[Q8QX9QT-X8QQB8Q8-NQ8QJ8-M8QMN]
测量系统分析
(MSA)
方法
测量系统分析<
/p>
(MSA)
方法
****
1.
目的
对测量系统变差进行分析评
估,以确定测量系统是否满足规定的要求,确保测
量数据的质量。
2.
范围
适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。
3.
职责
质管部负责测量系统分析的归口管理
;
公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析
;
各分公司
(
分厂
)
质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。
4.
术语解释
测量系统
(Measurement system)
:用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、
设备以及操作人员的集合,
用来获得测量结果的整个过程。
偏倚
(Bias):
指测量结果的观测平均值与基准值的差值。
<
/p>
稳定性
(Stability):
指测量
系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特
性时获得的测量平均值总变差
,
即偏倚随时间的增量。
重复性:重复性(
Repeatability
)是指由同
一位检验员
,
采用同一量具
,
多次测
量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。
再现性
:
再现性
(Reproductivity)
< br>是指由不同检验员用同一量具,多次测量同
一产品的同一质量特性时获得的测量平
均值的变差。
分辨率(
Resolu
tion
)
:
测量系统检出并如实指示
被测特性中极小变化的能力。
可视分辨率(
Apparent Resolution
)
:
测量仪器的最小增量的大小
,
如卡尺的可
视分辨率为。
有效分辨率(
Effective Resolution
p>
)
:
考虑整个测量系统变差时的数据等级大
小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差(6δ)(或公差)划分的
等级数量来表示。关于
有效分辨率,在
99%
置信水平时其标准估计值为
GR&R<
/p>
。
分辨力
(Discrimination):
对于单个读数系统
,
它是可视和有效分辨率中较差
的。
盲测
:
指在实际测量环境中
,
检验员事先不知正在对该测量
系统进行分析,也不
知道所测为那一只产品的条件下
,
获得的测量结果。
计量型与计数型测量系统<
/p>
:
测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述
,
这
样的测量系统称之为计量型测量系统
;
测量系统测量结果用定性的数据来表述
,
如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸
,
这样的测量系统称之
为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统
的分析将用到不同的方
法。
5.
工作程序:
测量系统分析时机:在下述三种情况下必须进行测量系统分析。
新产品开发时
;
检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前
;
定期做
,
公
司规定每年进行一次全面的测量系统分析
,
分析范围覆盖所有合
格在
用的不同型号规格的量具
,
分析内
容覆盖测量系统五性。
测量系统分析条件
测量作业必须标准化
;
检验员必须是经培训合格人员
;
测量仪器必须是检定合格状态
;
质量特性测量值可重复。
计量型测量系统分析
稳定性分析
选取一个样本并确定其相
对于可追溯标准的基准值,如果不能得到,则选择一
个落在使用的量程中程数的产品,并
指定它作为标准样本进行稳定性分析。
定期(天,周,月)测量基准样品
3
-5
次,决定样本容量和频率时考虑的因素
有:校准周期、使用
频率、修理次数和使用环境等。读数应在不同时间读取以
代表测量系统实际使用的情况。
将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的
XBAR-R
控制图上。
计算控制界限
,
并参照
Q/HC310
06A
—
2002
《
< br>SPC
(统计过程控制)应用方法》控
制图判读规则对不
稳定或失控作出判断,如有不稳或异常现象应进行原因分
析,并采取相应措施(如对量具
进行校准或维修)。
测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。
p>
偏倚分析
(
独立样本法
)
获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值
,
如果不能得到,则选择一
个落在使用的量程中程数的产品,并对
其用精密的量具
(
通常精度为被分析量具
的
4~10
倍
)
测量
10
次计算平均值
,
此值作为“基准值”。
由一位检验员
,
以常规方式对样品测量
10
< br>次
,
并计算
10
次读数的平均值
,
此值
即为“观测平均值”。
计算偏倚
偏倚
=
观测平均值
--
基准值
制造过程变差
=
6δ<
/p>
偏倚
%=
偏倚
/
制造过程变差×100%
制造过程变差可从以前的过程控制图得出,或从同时进行的过程能力研究得
出,如无法求得时
,
可用规格公差代替。
偏倚接受准则
:
a
、
对测量
重要特性的测量系统偏倚
%10%
时可接受;
< br>
b
、对测量一般特性的测量系统
10%≤偏倚%≤30%时可接受;
c
、
偏倚<
/p>
%>30%,
拒绝接受。
偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》
线性分析
选择
5
个产品
,
它们的测量值要覆盖量具
的工作量程。