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测量系统分析
(MSA)
< br>方法
精品
.
测
量系统分析
(MSA)
方法
****
1.
目的
对测量系统变差进行分析评
估，
以确定测量系统是否满足规定的要求，
确保测量数据的质量
。
2.
范围
适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。
3.
职责
3.1
质管部负责测量系统分析的归口管理
;
3.2
公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析
;
3.3
各分公司
(
分厂
)
质检科负责新产品开发时测量
系统分析的具体实施。
4.
术语解释
4.1
测量系统
(Measurement system)
：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操
作人员
的集合，用来获得测量结果的整个过程。
4.2
偏倚
(Bias):
指测量结果的观测平均值与基准
值的差值。
4.3
稳定性
(Stability):
指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件
的单一特性时获得的测
量平均值总变差
,
即偏倚随时间的增量。
4.4
重复
性：重复性（
Repeatability
）是指由同一位检验
员
,
采用同一量具
,
< br>多次测量同一产品的
同一质量特性时获得的测量值的变差。
4.5
再现性
:
再现性
(Reproductivity)
< br>是指由不同检验员用同一量具，
多次测量同一产品的同一
质量特性时获得的测量平均值的变差。
4.6
分辨率（
Resolution
）
:
测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。
4.7
可视分辨率（
Apparent
Resolution
）
:
测量仪器的
最小增量的大小
,
如卡尺的可视分辨率为
0.02mm
。
4.8
有效分辨率（
Effective Resolution
）
:
考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量
系
统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关
于
有效分辨率，在
99%
置信水平时其标准估计值为
1.41PV/GR&R
。
4.9
分辨力
< br>(Discrimination):
对于单个读数系统
,
它是可视和有效分辨率中较差的。
4.10
盲测
:
指在实际测量环境中<
/p>
,
检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测
为那一只产品的条件下
,
获得的测量结果。
4.11
计量型与计数型测量系统<
/p>
:
测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述
,
这样的测量
精品
.
系统称之为计量型测量系统
; <
/p>
测量系统测量结果用定性的数据来表述
,
如用通过或不能通过
塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸
,
这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量
系统和计数型测
量系统的分析将用到不同的方法。
5.
工作程序：
5.1
测量系统分析时机：在下述三种情况下必须进行测量系统分析。
5.1.1
新产品开发时
;
5.1.2
检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前
;
5.1.3
定期做
,
公司规定每年进行一次全面的测量系统分析
,
分析范围
覆盖所有合格在用的不同型号
规格的量具
,
分析内容覆盖测量系统五性。
5.2
测量系统分析条件
5.2.1
测量作业必须标准化
; <
/p>
5.2.2
检验员必须是经培训合格人员
;
5.2.3
测量仪器必须是检定合格状态
< br>;
5.2.4
质量特性测量值可重复。
5.3
计量型测量系统分析
5.3.1
稳定性分析
5.3.1.1
选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值，
如果不能得到，
则选择一个落在
使用的量程中
程数的产品，并指定它作为标准样本进行稳定性分析。
5.3
.1.2
定期（天，周，月）测量基准样品
3-5
次，决定样本容量和频率时考虑的因素有：校
准周期、
使用频率、
修理次数和使用环境等。
读数应在不同时间读取以
代表测量系统实际使
用的情况。
5.
3.1.3
将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的
XB
AR-R
控制图上。
5.3.1.4
计算控制界限
,
并参照
Q/HC31006A
—
2002
《
SPC
（统计过程控制）应用方法》控制图
判读规则对不稳定或失控作出判断，
如有不稳或异常现象应进行原因分析，<
/p>
并采取相应措施
（如对量具进行校准或维修）。
< br>
精品
.
< br>5.3.1.5
测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。
5.3.2
偏倚分析
(
独立样本法
)
5.3.2.1
获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值
,
如果不能得到，则选择一个落在
使用的量程中程数的产品，并对其用精密的量
具
(
通常精度为被分析量具的
4~10
倍
)
测量
10
次计算平均值
,
此值作为“基准值”。
5.3.2.2
由一位检验员
,
以常规方式对样品测量
10
次
,
并计算
10
次读数的平均值
,
此值即为“观
测平均值”。
5.3.2.3
计算偏倚
偏倚
=
观测平均值
--<
/p>
基准值
制造过程变差=6δ
偏倚
%=
偏倚
/
制造过程变差
×100%
制造过程变差可从以前的过程控制图得出，
或从同时进行的过程能力研究得出，
如无法求得
时
,
可用规格公差代替。
5.3.2.4
偏倚接受准则
:
a
、
对测量
重要特性的测量系统偏倚
%10%
时可接受；
< br>
b
、对测量一般特性的测量系统
10%≤偏倚%≤30%时可接受；
c
、
偏倚<
/p>
%>30%,
拒绝接受。
5.3.2.5
偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》
5.3.3
线性分析
5.3.3.1
选择
5
个
产品
,
它们的测量值要覆盖量具的工作量程。
< br>
5.3.3.2
用精密量具测量每个产品以确定它们各
自的“基准值”并确认其尺寸覆盖了被分析
量具的工作量程。
5.3.3.3
由被分析量具的操作员盲测每个产品
12
次
,
并计算测量平均
值和偏倚。
5.3.3.4
绘图：以
基准值为
X
轴
,
偏倚为
Y
轴作散布图。
5.3.3.5
使用以下公式求最佳拟合这些点的回归直线和直线的相关系
数
R
。
y=b+ax
式中：
x
为基准值
精品
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