-
CPK
CPK
：
Complex
Process Capability index
的缩写，
['k
?
mpleks]
['pr
??
ses] [ke
?
p
?
'b
?
l
?
t
?
] ['
?
ndeks]
是现代企业用于表示
制程能力
的指标。
制程能力
指标是一种表示制程水平高低的方法，其实质作用是反
映制程合格率的高低。
制程能力
的研
究在於确认这些
特性符合规格的程度
，以保证制程成品的良率在
要求的水准之
上，可作为制程持续改善的依据。
而规格依上下限又分成单边规格及双边规格。
只有
规格上限和规格中心
或
只
有规格下限和规格中心的规格称为
单边规格
。
< br>
有规格上下限与中心值
，
且<
/p>
上下限与中心值
对称
的规格称为
双边规格
。
当我们的产品通过了
Gager
[g
e
?
d
?
]<
/p>
GR&R
的测试之后，我们即可开始
C
pk
值的测试。
（
Gauger
['
ɡe?d??]
测量者）
CPK
值越大表示品质越佳。
Cpk
——
过程能力指数
CPK =
Min
（
CPKu,CPKl)
USL (Upper specification limit):
规格上限。
LSL (Low
specification limit):
规格下限。
ˉx =
(x1+x2+...+xn) / n :
平均值。
T = USL -
LSL :
规格公差。
U =
(USL + LSL) / 2
：规格中心。
CPKu = | USL-
ˉx | /
3σ
CPKl = | ˉx
-
LSL | / 3σ
意义
制程水平的量化反映
;
（用一个数值来表达制程的水平）
制程能力指数：是一种表示制程水
平高低的方便方法，其实质作用是反映制
程合格率的高低。
计算公式
CPK=CP*
（
|1-CA|
）
Ca (Capability of
Accuracy)
：制程准确度
;
Cp (Capability of
Precision)
：制程精密度
;
注意
:
计算
Cpk
时，取样数据至少应有
20
组数
据，而且数据要具有一定代表性。
计算实例
某零件质量要求为
20±0.15，抽样
100
件，测得：
=20.05mm
；
s=0.05mm
，求过程能力
指
数。根据零件的规格要求，
Tu=20.15
，
Tl=19.85
M=Tu+Tl/2=(20.15+19.85)/2=20.00
ε=|M
- 20.05|=0.05
C
PK
=CP*
（
< br>|1-CA|
）
=(T-
2ε)
/6s=(0.3
-2*0.05)/(6*0.05)=(0.3-
< br>0.1)/(6*0.05)≈0.67
[1]
处理原则
A+≥1.67
无缺点考虑降低成本
A1.33≤Cpk<1.67
状态良好维持现状
B1.0≤Cpk<1.33
改进为
A
级
C0.67≤Cpk
<1.0
制程不良较多
,
必须提升其能
力
DCpk<0.67
制程能力较差
，考虑整改设计制程
[2]
应用讲议
1. Cpk
的中文定义为：制程能力指数，
是某个工程或制程水准的量化反应，
也是工程评估的
一类指标。
2.
同
Cpk
息息相关的两个参数：
Ca , Cp.
Ca:
制程准确度。
在衡量「实际平均值」
与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因
不存在规格中心，因此不存在
Ca
；对於双边规格，Ca=(ˉx
-U)/(T
/2)
。
Cp:
制程
精密度
。
在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，
< br>
只有上限和中心值，
Cpu = |
USL-
ˉx | / 3σ。
只有下限和中心值，Cpl = | ˉx
-
LSL | / 3σ
对於双边规格：
Cp=(USL-
LSL) /
6σ
3. Cpk, Ca,
Cp
三者的关系：
Cpk = Cp
* ( 1 - |Ca|)
，
Cpk
是
Ca
及
Cp
两者的中和反
应，
Ca
反应的是位臵关
系
(
集中趋势
)
，
Cp
反应的是散布关系
(
离散趋势
)
4.
当
选择制程站别
Cpk
来作管控时，应以成本做考量的首要因素，
还有是其品质特性对后
制程的影响度。
5.
计算取样数据至少应有
20~2
5
组数据，方具有一定代表性。
6.
计算
Cpk
除收集取样数据外，还应知
晓该品质特性的规格上下限
(USL
，
LSL)
，才可顺利
计算其值。
7.
首先可用
Excel
的“STDEVP”函数
(
注：
< br>应该是“STDEV”，
可参考
minitab
计算出的数
据。
excel2007
及早期版本与
STDEV.P
计算值相同
)
自动计算所取样数据的
标准差
(σ)，
再计算出
规格公差
(
T)
，及规格中心值
(U).
规格公
差
T=
规格上限－规格下限；规格中心值
U=
（规格上限
+
规格下限）
/2
；
8.
依据
公式
：Ca=(ˉx
< br>-U)/(T/2)
，
计算
出制程准确度：
Ca
值
(ˉx
为所有取样数据的平
均值
)
Ca
的评级标准及处理：
等级
A
B
C
D
Ca
值
|Ca|≤12.5%
12.5%≤|Ca|≤25%
25%≤|Ca|≤50%
50%≤|Ca|
处理原则
作业员遵守作业标准操作并达到要求，需继续保持。
有必要将其改进为
A
级。
作业员可能看错规格或不按作业标准操作。须检讨规格及作业标准。
应采取紧急措施全面检讨所有可能影响之因素，必要时得停止生产。
9.
依据公式：Cp =T/6σ
，
计算出制程精密度：
Cp
值
Cp
的评级标准及处理：
等级
A+
A
B
C
D
Cp
值
Cp≥1.67
1.33≤Cp≤1.67
1.00≤Cp≤1.33
0.67≤Cp≤1.00
Cp≤0.67
处理原则
无缺点。可考虑降低成本。
状态良好维持现状。
改进为
A
级。
制程不良较多，须提升能力。
制程能力太差，应考虑重新整改设计程程。
10.
依据公式：
Cpk=Cp(1-|Ca|)
，
计算出制程能力指数：
Cpk
值
11. Cp
k
的评级标准：（可据此标准对计算出之
制程能力
指数做相应对策）
等级
A++
A+
A
B
C
D
Cpk
值
Cpk≥2.0
2.0
>
Cpk
≥
1.67
1.67
>
Cpk
≥
1.33
1.33
>
Cpk
≥
1.0
1.0
>
Cpk
≥
0.67
0.67
>
Cpk
处理原则
特优，可考虑成本的降低
优，应当保持之
良，能力良好，状态
稳定，但应尽力提升为
A+
级
一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为
A
级
差，制程不良较多，必须提升其能力
不可接受，其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
12. Cpk
和制程良率换算。
Cpk
每一百万件之不良
合格率
0.33
0.67
1
1.33
1.67
2
317310
45500
2700
63
0.57
0.002
68.3
95.5
99.73
99.9937
99.99995
100
CPK
与
PPK
都是表示制程能力的参数，
PPK
< br>中添加了对过程特殊原因的关注，是描述过程
性能的指标。现代计算中多采用
Minitab
软件
来实现，方便快捷。<
/p>
GR&R
本词条缺少
信息栏
、
名片图
，补充相关
内容使词条更完整，还能快速升级，赶紧来编辑吧！
Gauge repeatability &Reproducibility
评价重复性和再现性，
是
MSA
的一种常用方法。
R&R
是推进
6
SIGMA
及
QS 9000
中常用的
评价测定系统再现性及再生性的工具，
被广泛应用于尺寸测定的工具上，
根据本人的经验，
其一般不用于
电子测量仪器
上，特别是数显的仪器。同时在应用
GR&R
方
法时，很关键的是安排测量人员，测
量样本及收集数据，
这些步
骤将影响评价的结果。
MSA
和
GR
&R
是两个概念，
MSA
是测定系统分
析的全称，
其
包含
5
< br>种评价方法，通常称
5-STUDY
,
即：
BIAS,
STABILITY
, REPEATABILITY
,
REPRODUCIBILITY
, LINEARITY.
1
概述
MS
A
测量系统分析是使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析，
以评估测量系统的
分辨率和误差对于被测量的参数来说是否合适，并
确定测量系统误差的主要成分
,
而测量系统误差的重复性和<
/p>
再现性由
GR&R
研究确定。测量系统
误差由精确度、稳定度、
重复性、再现性合并而成
,
其中重复性跟再现性简
称为
GR&R,
其目的是借助量具量测数据，验证量具是否可靠
,
是否好用
,
还可以计算出量具的量测误差；
1.
重复性
（
Repeatability
）
：当同一零件的同一种特征由同一个人进行多次测量时变异的总和。
说明
:
其实验数据必须符合以下条件
:
同一人员、同一产品、同一环境、同一位置、同一仪器、短期时间内
.
2.
再现性
（
Reproducibility
）
：当同一零
件的同一种特征由不同的人使用同一量具进行测量时，在测量平均
值方面的变异的总和。
说明<
/p>
:
其实验数据必须符合以下条件
:
不同人员同一产品、同一环境、同一位置、同一仪器、较长时间段
.
2
报告类型
Gage R&R
报告
类型应包括
-Gage R&R
控制图
——
提供图形化的量具分析图表。
-Gage
R&R
概要
——
为量具研究提供均值
/
极差和方差分析。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
上一篇：电气工程及其自动化英语英译汉
下一篇：气体检测报警仪