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cmos工艺名词解释

作者:高考题库网
来源:https://www.bjmy2z.cn/gaokao
2021-02-02 17:19
tags:

-

2021年2月2日发(作者:expressionism)



CMOS


工艺名词解



saliside


——当金属和硅化物接触时会产生一层融合物 ,


叫难融金属硅化物,


此及


salis ide




siliside


——一种工艺,在源漏区淀积(或是叫覆盖?)硅化物,这样一种




工艺就叫


s iliside




polisid e


——也为一种工艺,乃在栅极


poly


上淀积硅化物。




A.M.U


原子质量数



ADI After develop inspection


显影后检视



AEI


蚀科后检查



Alignment


排成一直线,对平



Alloy


融合:电压与电流成线性关系,降低接触的阻值



ARC



anti-reflect coating


防反射层



ASHER:


一种干法刻蚀方式



ASI


光阻去除后检查



Backside


晶片背面



Backside Etch


背面蚀刻



Beam- Current


电子束电流



BPSG:


含有硼磷的硅玻璃



Break


中断,


stepper< /p>


机台内中途停止键



Cassette


装晶片的晶舟



CD



critical dimension


关键性尺寸



Chamber


反应室



Chart


图表



Child lot


子批



Chip (die)


晶粒



CMP


化学机械研磨



Coater


光阻覆盖(机台)



Coating


涂布,光阻覆盖



Contact Hole


接触窗



Control Wafer


控片



Critical layer


重要层



CVD


化学气相淀积



Cycle time


生产周期



Defect


缺陷



DEP: deposit


淀积



Descum


预处理



Developer


显影液;显影(机台)



Development


显影



DG: dual gate


双门



DI water


去离子水



Diffusion


扩散



Doping


掺杂



Dose


剂量



Downgrade


降级



DRC: design rule check


设计规则检查



Dry Clean


干洗



Due date


交期



Dummy wafer


挡片



E/R: etch rate


蚀刻速率



EE


设备工程师



End Point


蚀刻终点



ESD: electrostatic discharge/electrostatic damage


静电离子损伤



ET: etch


蚀刻



Exhaust


排气(将管路中的空气排除)



Exposure


曝光



FAB


工厂



FIB: focused ion beam


聚焦离子束



Field Oxide


场氧化层



Flatness


平坦度



Focus


焦距



Foundry


代工



FSG:


含有氟的硅玻璃



Furnace


炉管



GOI: gate oxide integrity


门氧化层完整性



H.M.D.S


Hexamethyldisilazane,


经去水烘烤的晶 片,


将涂上一层增加光阻与晶片表面附着力


的化合物,称


H.M.D.S


HCI: hot carrier injection


热载流子注入



HDP



high density plasma


高密度等离子体



High-Voltage


高压



Hot bake


烘烤



ID


辨认,鉴定



Implant


植入



Layer


层次



LDD: lightly doped drain


轻掺杂漏



Local defocus


局部失焦因机台或晶片造成之脏污



LOCOS: local oxidation of silicon


局部氧化



Loop


巡路



Lot




Mask (reticle)


光罩



Merge


合并



Metal Via


金属接触窗



MFG


制造部



Mid-Current


中电流



Module


部门



NIT: Si3N4


氮化硅



Non-critical


非重要



NP: n-doped plus(N+) N


型重掺杂



NW: n-doped well N




OD: oxide definition


定义氧化层



OM: optic microscope


光学显微镜



OOC


超出控制界线



OOS


超出规格界线



Over Etch


过蚀刻



Over flow


溢出



Overlay


测量前层与本层之间曝光的准确度



OX: SiO2


二氧化硅



P.R. Photo resisit


光阻



P1: poly


多晶硅



PA; passivation


钝化层



Parent lot


母批



Particle


含尘量


/


微尘粒子



PE: 1. process engineer; 2. plasma enhance 1


、工艺工程师


2


、等离子体增强



PH: photo


黄光或微影



Pilot


实验的



Plasma


电浆



Pod


装晶舟与晶片的盒子



Polymer


聚合物



POR Process of record


PP: p-doped plus(P+) P


型重掺杂



PR: photo resist


光阻



PVD


物理气相淀积



PW: p-doped well P




Queue time


等待时间



R/C: runcard


运作卡



Recipe


程式



Release


放行



Resistance


电阻



Reticle


光罩



RF


射频



RM: remove.


消除



Rotation


旋转



RTA: rapid thermal anneal


迅速热退火



RTP: rapid thermal process


迅速热处理



SA: salicide


硅化金属



SAB: salicide block


硅化金属阻止区



SAC: sacrifice layer


牺牲层



Scratch


刮伤



Selectivity


选择比



SEM



scanning electron microscope


扫描式电子显微镜



Slot


槽位



Source-Head


离子源



SPC


制程统计管制



Spin


旋转



Spin Dry


旋干



Sputter


溅射



SRO: Si rich oxide


富氧硅



Stocker


仓储



Stress


内应力



STRIP:


一种湿法刻蚀方式



TEOS



(CH3CH2O)4Si


四乙 氧基硅烷


/


正硅酸四乙酯,常温下液态。作

LPCVD /PECVD


生长


SiO2

< br>的原料。又指用


TEOS


生长得到的

SiO2


层。



Ti




TiN


氮化钛



TM: top metal


顶层金属层



TOR Tool of record


Under Etch


蚀刻不足



USG: undoped


硅玻璃



W (Tungsten)




WEE


周边曝光



Yield


良率




FICD: FInal CD


DICD: Development Inspection CD




集成电路词条




1.


集成电路




随着电子技术的发展及各种电器的普及,集成电路的应用越来 越广,大到飞入太空的“神州


五号”


,小到我们身边的电子手表 ,里面都有我们下面将要说到的集成电路。



< p>
我们将各种电子元器件以相互联系的状态集成到半导体材料(主要是硅)或者绝缘体材料薄


层片子上,再用一个管壳将其封装起来,构成一个完整的、具有一定功能的电路或系统。这


种有一定功能的电路或系统就是集成电路了。就像人体由不同器官组成,各个器官各司其能


而又相辅相成,少掉任何一部分都不能完整地工作一样。任何一个集成电路要工作就必须具< /p>


有接收信号的输入端口、发送信号的输出端口以及对信号进行处理的控制电路。输入、输出



I/O



端 口简单的说就是我们经常看到的插口或者插头,


而控制电路是看不到的,


这是集成


电路制造厂在净化间里制造出来的。




如果将集成电路按集成度高低分类,可以分为小规模(


SSI



、中规模(


MSI



、大规模(


LSI

< p>


和超大规模(


VLSI



。近年来出现的特大规模集成电路(


UISI



,以小于


1um


为最小的设 计尺


寸,这样将在每个片子上有一千万到一亿个元件。




2.


系统芯片(

SOC





不知道大家有没有看过美国大片


《终结者》



在看电影的时候,


有没有想过,


机器人为什么能


够像人一样分析各种问题,作出各种动作,好像他也有大脑,也有记忆一样。其实他里面 就


是有个系统芯片(


SOC


)在工作。 当然,那个是科幻片,科技还没有发展到那个水平。但是


SOC


已成为集成电路设计学领域里的一大热点。在不久的未来,它就可以像“终结者”一样


进 行工作了。




系统芯片是采用低 于


0.6um


工艺尺寸的电路,


包含一 个或者多个微处理器


(大脑)



并且有 相


当容量的存储器


(用来记忆)



在一块芯片上实现多种电路,


能够自主地工作,

这里的多种电


路就是对信号进行操作的各种电路,就像我们的手、脚,各有各的功能 。这种集成电路可以


重复使用原来就已经设计好的功能复杂的电路模块,这就给设计者节 省了大量时间。




SOC


技术被广泛认同的根本原因,并不在于它拥有什么非常特别的功能,而在于它可以在较


短的时间内被设计出来。


SOC


的主要价值是可 以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,


缩短产品的上市周期,增强产品的市场竞争 力。




3.


集成电路设计




对于“设计”这个词,大家肯定不会感到陌生。在修建三峡水 电站之前,我们首先要根据地


理位置、水流缓急等情况把它在电脑上设计出来。制造集成 电路同样也要根据所需要电路的


功能把它在电脑上设计出来。




集成电路设计简单的说就是设计硬件电路。我们在做任何事情 之前都会仔细地思考究竟怎么


样才能更好地完成这件事以达到我们预期的目的。我们需要 一个安排、一个思路。设计集成


电路时,设计者首先根据对电路性能和功能的要求提出设 计构思。然后将这样一个构思逐步


细化,利用电子设计自动化软件实现具有这些性能和功 能的集成电路。假如我们现在需要一


个火警电路,当室内的温度高于

50


℃就报警。设计者将按照我们的要求构思,在计算机上利


用软件完成设计版图并模拟测试。


如果模拟测试成功,


就可以 说已经实现了我们所要的电路。




集成电路设计一般可分为层次化设计和结构化设计。层次化设计就是把复杂的系统简化,分

为一层一层的,这样有利于发现并纠正错误;结构化设计则是把复杂的系统分为可操作的几

< br>个部分,允许一个设计者只设计其中一部分或更多,这样其他设计者就可以利用他已经设计


好的部分,达到资源共享。




4.


硅片制造




我们知道许多电器中都有一些薄片,这些薄片在电器中发挥着 重要的作用,它们都是以硅片


为原材料制造出来的。硅片制造为芯片的生产提供了所需的 硅片。那么硅片又是怎样制造出


来的呢?




硅片是从大块的硅晶体上切割下来的,而这些大块的硅晶体是 由普通硅沙拉制提炼而成的。


可能我们有这样的经历,块糖在温度高的时候就会熔化,要 是粘到手上就会拉出一条细丝,


而当细丝拉到离那颗糖较远的地方时就会变硬。其实我们 这儿制造硅片,首先就是利用这个


原理,将普通的硅熔化,拉制出大块的硅晶体。然后将 头部和尾部切掉,再用机械对其进行


修整至合适直径。这时看到的就是有合适直径和一定 长度的“硅棒”


。再把“硅棒”切成一片

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本文更新与2021-02-02 17:19,由作者提供,不代表本网站立场,转载请注明出处:https://www.bjmy2z.cn/gaokao/601535.html

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