-
.
常用术语翻译
active region
有源区
component
有源器件
退火
heric pressure CVD (APCVD)
常压化学气相淀积
（生产线）后端工序
双极
CMOS
g wire
焊线，引线
硼磷硅玻璃
l length
沟道长度
al vapor deposition (CVD)
化学气相淀积
al
mechanical planarization
(CMP)
化学机械平坦化
ene
大马士革工艺
tion
淀积
ion
扩散
concentration
掺杂浓度
oxidation
干法氧化
ial layer
外延层
rate
刻蚀速率
ation
制造
oxide
栅氧化硅
reliability
集成电路可靠性
.
.
ayer dielectric
层间介质（
ILD
）
implanter
离子注入机
ron sputtering
磁控溅射
rganic
CVD(MOCVD)
金属有机化学气相淀积
board
印刷电路板
enhanced CVD(PECVD)
等离子体增强
CVD
抛光
sputtering
射频溅射
n on insulat
or
绝缘体上硅（
SOI
）
第一章
半导体产业介绍
1.
什么叫集成电路？写出集成电路发展的五个时代及晶体管的数
量？
(15
分
)
集成电路：
将多个电子元件集成在一块衬底上，完成一定的电路或系统功能。
集成电路
芯片
/
元件数
产业周期
无集成
1
1960
年前
小规模
(SSI)
2
到
50 20
世纪
60
年代前期
中规模
(MSI)
50
到
5000 20
世纪
60
年代到
70
年代前期
大规模
(LSI) 5000
到
10
万
2
0
世纪
70
年代前期到后期
超大规模
(VLSI) 10
万到
100
万
20
世纪
70
年代后期到
80
年代后期
甚大规模
(ULSI)
大于
100
万
20
世纪
90
年代后期到现在
2.
写出
IC <
/p>
制造的５个步骤？
(15
分
)
.
.
Wafer
preparation(
硅片准备
)
Wafer fabrication
(
硅片制造
)
Wafer
test/sort (
硅片测试和拣选
)
Assembly and packaging
(
装配和封装
)
Final
test(
终测
)
3.
写出半导体产业发展方向？什么是摩尔定律？
(15
分
)
发展方向：
提高芯片性能
——
提升速度
(
关
键尺寸降低
,
集成度提高
,
研发采用新材料
)
，
降低
功耗。
提高芯片可靠性
——
严格控制污染。
降低成本
——
线宽降低、晶片直径增加。
摩尔定律指：
IC
的集成度将每隔一年翻一番。
1975
年被修改为：
IC
的集成度将每隔一年半翻一番。
4.
什么是特征尺寸
CD
？
(10
分
)
最小特征尺寸，称为关键尺寸（
Critical Dimen
sion
，
CD
）
CD
常用于衡量工艺难易的标志。
5.
什么是
More
moore
定律和
More than Moore
定律？
(10
分
)
“
More Moore
”
指的是芯片特征尺寸的不断缩小。
从几何学角度
指的是为了提高密度、性能和可靠性在晶圆水平和垂直方向上的特征尺寸的继
续缩小。<
/p>
与此关联的
3D
结构改善等非几何学工艺技术和新材料的运用来影响晶圆的
电性能。
“
More Than M
oore
”
指的是用各种方法给最终用户提供附加价值，不一定
要缩小
特征尺寸如从系统组件级向
3D
集成或精确的封装级
(SiP)
或芯片级
(SoC)
转移。
6.
名词解释：
high-k;
low-k; Fabless; Fablite; IDM;
Foundry;C
hipless(20
分
)
high-k
：高介电常数。
low-k
：低介电常数。
Fabless
：
IC
设计公司，只设计不生产。
Fabl
ite
：轻晶片厂，有少量晶圆制造厂的
IC
< br>公司。
IDM
：集成器件制造商
(IDM-
Integrated Device Manufactory Co.)
，从晶圆之
设计、制造到以自有品牌行销全球皆一手包办。
Foundry
：标准工艺加工厂或称专业代工厂商。
Chipless
：既不生产也不设计芯片，而是设计
IP
内核，授权给半导体公司使用。
7.
例举出半导体产业的
8
种
不同职业
并简要描述
.
(15
分
)
1.
硅片制造技师：
负责操作硅片制造设备。
< br>一些设备维护以及工艺和设备的基本
故障查询。
2.
设备技师：
查询故障并维护先进设备系统
，
保证在硅片制造过程中设备能正确
运行。
.
.
3.
< br>设备工程师：从事确定设备设计参数和优化硅片生产的设备性能。
4.
工艺工程师：分析制造工艺和设备的性能以确定优化参数设置。
5.
实验室技师：从事开发实验室工作，建立
并进行试验。
6
：
< br>成品率
/
失效分析技师：
从事与
缺陷分析相关的工作，
如准备待分析的材料并
操作分析设备以确
定在硅片制造过程中引起问题的根源。
7.
< br>成品率提高工程师：收集并分析成品率及测试数据以提高硅片制造性能。
8.
设施工程师：
为硅片制造厂的化学材料、
净化空气及常用设备的基础设施提供
工程设计支持。
第二章
半导体材料特性
第五章
半导体制
造中的化学品
第六章
硅片制造中的玷污
控制
1.
最通常的半导体材料是什么？该
材料使用最普遍的原因是什
么？（第二章）（
10
分）
答：最通常的半导体材料是硅。原因：
1.
硅的丰裕度
;2.
更高的融化温
度允许更高的工艺容限
;3.
< br>更宽的工作温度范围
;4.
氧化硅的自然生成
.
2.
砷化镓相对于
硅的优点是什么？（第二章）（
5
分）
答：
砷化镓具有比硅更高的电子迁移率，
因此多数载流子也移动得比
硅中的更快。
砷化镓也有减小寄生
电容和信号损耗的特性。
这些特性
使得集成电路的速度比由硅制
成的电路更快。
GaAs
器件增进的信号
速度允许它们在通信系统中响应高频微波信号并精确地把它们转换
成电信号。
硅基半导体速度太慢以至于不能响应微波频率。
砷化镓的
.
.
材料电阻率更大，
这
使得砷化镓衬底上制造的半导体器件之间很容易
实现隔离，不会产生电学性能的损失。<
/p>
3.
描述在
硅片厂中使用的去离子水的概念。（第五章）（
5
分）
答：去离子水
:
在半
导体制造过程中广泛使用的溶剂，在它里面没有
任何导电的离子。
DI Water
的
PH
值为
7
，既不是酸也不是碱，是中
性的。它能够溶
解其他物质，包括许多离子化合物和供价化合物。当
水分子（
H
2O)
溶解离子化合物时，它们通过克服离子间离子键使离
子分
离，然后包围离子，最后扩散到液体中。
< br>4.
例举出硅片厂中使用的五种通用气体。（第五章）（
5
分）
答：氧气（
< br>O2)
、氩气（
Ar)
、氮气（
N2
）
、氢气（
H2
）和氦气（
He)
5.
对净化间做一般性描述。（第六章）（
10
分）
答：净化间是硅片制造设备与外
部环境隔离，免受诸如颗粒、金属、
有机分子和静电释放（
ES
D)
的玷污。一般来讲，那意味着这些玷污
在最先进测试仪器的
检测水平范围内都检测不到。
净化间还意味着遵
循广泛的规程和
实践，
以确保用于半导体制造的硅片生产设施免受玷
污。
6.
什么是硅片
的自然氧化层？由自然氧化层引起的三种问题是什
么？（第六章）（
10
分）
答：自然氧化层
:
如果曝露于室温下的空气或含溶解氧的去离子水中，
硅片的表面将被氧化。
这一薄氧化层称为自然氧化层。
硅片上最初的
.
.
自然氧化层生长
始于潮湿，
当硅片表面暴露在空气中时，
一秒钟内就
有几十层水分子吸附在硅片上并渗透到硅表面，
这引起硅表面甚至在
室温下就发生氧化。
自然氧化层引起的问题是：
①将妨碍其他工艺步
骤，
如硅片上单晶薄膜的生长和超薄氧化
层的生长。
②另一个问题在
于金属导体的接触区，如果有氧化层
的存在，将增加接触电阻，减少
甚至可能阻止电流流过。③对半导体性能和可靠性有很大
的影响
7.
例举硅片制造厂房中的
7
种玷污源。（第六章）（
10
分）
答：硅片制造
厂房中的七中沾污源：
（
1
）空气
:
净化级别标定了净化
间的空气质量级别，
它是由净化室空气中的颗粒尺寸和密度表征的；
（
2
）人
:
人是颗粒的产生者，人员持续不断的进出净
化间，是净化间
沾污的最大来源；
（
3
）厂房
:
为了是半导体制造在一个超洁
净的环境
中进行，有必要采用系统方法来控制净化间区域的输入和输出；
（
4
）
水
:
需要大量高质量、超纯去离子水，城市用水含有大量的沾污以致
< br>不能用于硅片生产。去离子水是硅片生产中用得最多的化学品（
5
）
工艺用化学品
:
为了保证成
功的器件成品率和性能，半导体工艺所用
的液态化学品必须不含沾污；
< br>（
6
）工艺气体
:
气体流经提纯器和气体
过滤器以去除杂质和颗粒；
（
7
）生产设备
:
用来制造半导体硅片的生
产设备是硅片生产中最大的颗粒来源。
8.
解释空气质量净化级别。（第六章）（
5
分）
答：
净化级别标定了净化间的空气质量级别，
它是由净化室空气中的
颗粒尺寸和密度表征的。
这一数字描绘了要怎样控制颗粒以减少颗粒
玷污。净化级别起源于美国联邦标准
2009.
如
果净化间级别仅用颗粒
.
.
数来说
明，例如
1
级净化间，则只接受
1
个
0.5um
的颗粒。这意味着
每立方英尺中尺寸等于或大于
0.5um
的颗粒最
多允许一个。
9.
描述净化间的舞厅式布局。（第六章）（
10
分）
答：
净化间的舞厅式布局为大的制造间具
有
10000
级的级别，
层流工
作台则提供一个
100
级的生产环境。
10.
解释水的
去离子化。在什么电阻率级别下水被认为已经去离子
化？（第六章）（
< br>10
分）
答：
用以制造去离子水的去离子化过程是指，
用特制的离子交换树脂
去除电活性盐类的离子。
18M
Ω
-cm
电阻率级别下水被认为已经去离
子化。
11.
描述
RCA
清洗工艺。（第六章）（
10
分）
答：工业标准湿法清洗工艺称为
RCA
清洗工艺，由美国无线电公司
（
RCA
）于
20
世纪
60
年代提出。
RCA
湿法清洗由一系列有序的浸
入两种不同的化学溶液组成：
1<
/p>
号标准清洗液（
SC-1
）和
2
号标准清
洗液（
SC-
2
）
。
SC-1
的化学配料为
NH4OH/H2O2/H2O
这三种化学物<
/p>
按
1:1:5
到
1
：
2
：
7<
/p>
的配比混合，它是碱性溶液，能去除颗粒和有机
物质，
SC-1
湿法清洗主要通过氧化颗粒或电学排斥起作用。
< br>SC-2
的
组分是
HCL/H2
O2/H2O,
按
1
：
1
：
6
到
1
：
2
：
8
的配比混合，用于去
除硅片表面的金属。改进后的
RCA
清洗可在低温下进行，甚至低到
45
摄氏度
.
.
12.
例出典型的硅片湿法清洗顺
序。（第六章）（
10
分）
硅片清洗步骤：
(1)H2SO4/H2O2(piranha):
有机物和金属；
(2)UPW
清
洗（超纯水）
:
清洗；
(
3)HF/H2O
（稀
HF
）
:
自然氧化层；
(4)UPW
< br>清
洗
:
清洗；
< br>(5)NH4OH/H2O2/H2O(SC-1):
颗粒；
(6)UPW
清洗
:
清洗；
(7)HF/H2O:
自然氧化层；
(8)U
PW
清洗
:
清洗；
(9)HCL/H2O2/H2O(SC-2):
金属；
(
10)UPW
清洗
:
清洗；
(11)HF/H2O:
自然氧化层；
(12)U
PW
清洗
:
清洗；
(13)
干燥
:
干燥
第三章
器件技术基础
1.
< br>按构成集成电路基础的晶体管分类可以将集成电路分为哪
些类型？每种类型各有什
么特征？（
40
分）
答：
分为三种，
双极集成电路，
MOS
集成电路，
双极
-MOS
（
BiMOS
）
集
成电路。
双极集成电路：采用的有源器件是双极晶体管，特点
：速度高，驱动能力强，但
功耗大，集成能力低。
MOS
集成电路：
采用的有源器件是
MOS
晶体管，特点：输入阻抗高，抗干扰能
力强，
功耗小，集成度高。
双极
-MOS<
/p>
（
BiMOS
）集成电路：同时包含双极
和
MOS
晶体管，特点：综合了
速度高
，驱动能力强，抗干扰能力强，功耗小，集成度高的优点，但制造工艺复
杂。
2.
什么是无源
元件？例举出两个无源元件的例子。
什么是有
源元件？例举出两
个有源元件的例子。（
30
分）
答：无源元件：在不需要外加电源的条件下，就可以显示其特性的电子元件。这
些元件无论如何和电源相连，都可以传输电流。如电阻，电容。
有源元件：
内部有电源存在，
不需要能量的来源而
实行它特定的功能，
而且可以
控制电流方向，可放大信号。如二
极管，晶体管。
.
.
3.
什么是
CMOS
技术？什么是
ASIC
？（
30
分
答：
CMOS
（互补型金属氧化物半导
体）技术：将成对的金属氧化物半导体场效
应晶体管
（
MOSFET
）
集成在一块硅片上。
使集成电路有功耗低，
工作电压范围宽，
逻辑摆幅
大，使电路抗干扰能力强，隔离栅结构使
CMOS
器件的输入电
阻极大，
从而使
CMOS
期间驱动同类
逻辑门的能力比其他系列强得多。
ASIC
：（
Application
Specific
Integrated
< br>Circuits
）专用集成电路，是指应
特定用户要求
或特定电子系统的需要而设计、
制造的集成电路。
优点是：
体积小，
重量轻，功耗低，可靠性好，易于获得高性能，保密性好，
大批量应用时显著降
低成本。
第四章
硅和硅片制备
1.
< br>例举得到半导体级硅的三个步骤。半导体级硅的纯度能达到多
少？（
50
分）
第一步：用碳加热硅石来制备冶金级硅
第二步：通过化学反应将冶金级硅提纯以生成三氯硅烷
第三步：利用西门子方法，通过三氯硅烷和氢气反应来生产半导体级硅
纯度能达到
99.99999999%
2.
将圆柱形的单晶硅锭制备成硅片需要哪些工艺流程？（<
/p>
30
分）
整形
处理，切片，磨片和倒角，刻蚀，抛光，清洗，硅片评估，包
装
3.
什么是外延层？为什么硅片上要使用外延层？（
20
分）
外延层是指在
硅的外延中以硅基片为籽晶生长一薄膜层，新的外延层会复制硅片的晶体结
构，
并且结构比原硅片更加规则。
外延为器件设计者在优化器件性能方面提供
了很大的灵活
性，例如可以控制外延层掺杂厚度、浓度、轮廓，而这些因素与硅片衬底无
关的，这种控制
可以通过外延生长过程中的掺杂来实现。外延层还可以减少
CMOS
器件中的闩锁效应。
.
.
第七章
测量学和缺陷检查
第八章
工艺腔
中的气体控制
第十九章
硅片测试
第二十
章
装配与封装
1..
< br>给出半导体质量测量的定义。例出在集成电路制造中
12
种不同
的质量测量（第七章）（
10
分
）
半导体质量测量定义了硅片制造的规范要求，
以确保满足器件的性能
和可靠性。
集成电路制造中的
12
种不同的质量测量：
1.
膜厚
2.
方
块电阻
3.
< br>膜应力
4.
折射率
5.
掺杂浓度
6.
无图形表面缺陷
< br>7.
有图形表面
缺陷
8.
关键尺寸
9.
台阶覆盖
10.
套刻标记
11.
电容
-
电压特性
12.<
/p>
接触的
角度
2.
硅片关键尺寸测量的主要工具是什么？（第七章）（
5
分）
硅片关键尺
寸测量的主要工具是扫描电子显微镜（
SEM
）
，它能放大
10
万到
30
万倍，这明显高于光学显微镜，用扫描电子显微镜观测硅
片的横截面
部分能提供缺陷的信息，
常与其他分析技术结合使用，
如
EDX
或
FIB
。<
/p>
3.
解释投
射电子能显微镜。（第七章）（
10
分）
TEM
把加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子
与样品中
的电子碰撞而电子与样品中的原子的碰撞而改变方向，
从而产生立体
角散射，散射角的大小与样品的密度、厚度有关，因此可以形成明暗
.
.
不同的影像。
TEM
是惟一定量测量硅片上一些非常小特征尺寸的测
量工具
4.
例出
并描述
4
种真空范围。（第八章）（
5
分）
四种真空范围：
（
1
）低级真空
:
气流主要是由分子间碰撞产生的（也
称滞留）
，压
强高得足以机械型压力测量仪测量。
（
2
）中级真空
:
范围
是
1
托到
10e-3
托。
（
3
）高级真空
:<
/p>
气体分子间很少有碰撞。
（
4
）超高
级真空
:
是高级真
空的延伸，通过对真空腔的设计和材料的严格控制
尽量减少不需要的气体成分。
5.
给出使用初级泵和真空泵的理由。（第八章）（
5
分）
答：当真空里的压强减低时，气体分子间的空间加大了，
这成为气体
流过系统及在工艺腔内产生等离子体的重要因素。
而
初级泵可以去除
腔内
99.99%
的原
始空气或其他成分，高级真空泵用来获得压力范围
10e-3
托
到
10e-9
托的高级和超高级真空。
6.
例举并描述
IC
生产过程中的
5
种不同电学测
试。（第十九章）
（
5
分）
答：
IC
生产过程中的
5
种不同电学测试：
（
1
）
IC
设计验证
:
描述、调
试和检验新的芯片设计，
保证符合规格要求，
是在生产前进行的。
（
2
）
在线参数测试
:<
/p>
为了监控工艺，在制作过程的早期（前端）进行的产
品工艺检验测
试。
在硅片制造过程中进行。
（
3
）
硅片拣选测试
（探针）
< br>:
产品功能测试，
验证每一个芯片是否符合产品规格。<
/p>
在硅片制造后进
行。
（
< br>4
）
可靠性
:
< br>集成电路加电并在高温下测试，
以发现早期失效
（有
.
.
时候，也在在线参数测试中进行硅
片级的可靠性测试）
。在封装的
IC
进
行。
（
5
）终测
:
使用产品规格进行的产品功能测试。在封装的
IC
进
行。
7.
例举并解释
5
个进行
在线参数测试的理由。
（第十九章）
（
5
分）
答：
五个进行在线参数测试的理由为：
(1
）
鉴别工艺问题
:
硅片制造过
程中工艺
问题的早期鉴定
（而不是等到已经完成了硅片制造才发现有
问题
进行测试。
（
2
）通过
/
失效标准
:
依据通过
/
失效标准决定硅片是否
继续后面的制造程序
。
（
3
）数据收集
:
为了改进工艺，收集硅片数据
以评估工艺倾向（如沟道长
度的改变）
。
（
4
）特殊测试
:
在需要的时候
评估特
殊性能参数（如特殊客户需求）
。
（
5
）硅片级可靠性
:
需要确定
可靠性与工艺条件的联系时，进行随机的硅片级可靠性测试
8.
什么是
IC
可靠性？什么是老化测试？（第十九章）（
10
分）
IC
可靠性是指器
件在其预期寿命内，在其使用环境中正常工作的概
率，
换句话说
就是集成电路能正常使用多长时间。
老化测试在很苛刻
的环境中
（如吧温度提高到
85
℃，提高偏置电压）给芯片加电并测
试，使不耐用的器件失效，从而避免它们被交给客户）
，这种测试能
够产生更可靠的集成电路，
但往往需要长时间的测试，
十几甚至数百
小时，这是一种费钱耗时的工作
9.
例举在线参数测试的
4
个主要子系统。（第十九章）（
5
分）
在线参数测试的
4<
/p>
个主要子系统为：
（
1
< br>）探针卡接口
:
是自动测试仪
与
待测器件之间的接口。
（
2
）硅片定位
:
为测试硅片，首先要确与探
.
.
针接触的硅片的探针仪位置。
（<
/p>
3
）测试仪器
:
高级集成电路需要能够
在测试结构上快速、
准确、
重复地测量亚微安级电流和微法级电容的
自动测试设备，它控制测试过程（<
/p>
4
）作为网络主机或客户机的计算
机
:
指导测试系统操作的计算机包括测试软件算法、自动测试设备、<
/p>
用于硅片定位的探查控制软件、
测试数据的保存和控制、
系统校准和
故障诊断。
10.
例举并描述硅片拣选测试中的
三种典型电学测试（第十九章）
（
5
分
）
硅片拣选测试中的三种典型电学测试：
（
1
）
DC
测试
:
第一电学测试是
确保探针和压
焊点之间良好电学接触的连接性检查。
这项检查保证了
技术员的
测试仪安装正常。
（
2
）输出检查
:
硅片挑选测试用来测试输
出信号以检验芯
片性能。主要验证输出显示的位电平（逻辑“
1
”或
高电平，逻辑“
0
”或低电平）
< br>，是否和预期的一致。
（
3
）功
能测试
:
功能测试检验芯片是否按照产品数据规范的要求工作。
功能测试软件
程序测试芯片的所有方面，
它将二进制测试图形加入被测器件并验证
其输出的正确性。
11.
什么是印刷电路板（第二十章
）（
5
分）
印刷电路板（
PCB
）又称为底板或载体，用焊料将载有芯片的
集成电
路块粘贴在板上的电路互连，
同时使用连接作为其余产品
的电子子系
统的接口。
12.
例举出传统装配的
4
个步骤。（第二十章）（
5
分）
.
.
传统装配的
< br>4
个步骤：
1.
背面减薄
;2.
分片
;3.
装
架
;4.
引线键合
13.
例举出两种最广泛使用的集成
电路封装材料。（第二十章）（
5
分）
两种最广泛使用的集成电路封装材料是塑料封装和陶瓷封装
14.
例举并描述
< br>6
种不同的塑料封装形式。陶瓷封装的两种主要封
装方法
是什么？（第二十章）（
10
分）
<
/p>
答：
6
种不同的塑料封装形式：
（
1
）双列直插封装（
DIP
）
:
典型有两
< br>列插孔式管脚向下弯，
穿过电路板上的孔。
（
2
）
单列直插封装
（
SIP
）
:
是
DIP
的替代品，用以减小集成电路组件本体所占据电路板的空间。
（
3
）薄小型封装（
< br>TSOP
）
:
广泛用于存储器和
智能卡具有鸥翼型表
面贴装技术的管脚沿两边粘贴在电路板上相应的压点。
（
4
）
西边形扁
平封装
（
QFP
）
:
是一种在外壳四边都有高密度分布的管脚表面贴装组
件。
（
5
）具有
J
性管脚的塑封电极芯片载体（
PLCC
）
（
6
）无引线芯
片载体（
LCC
）
:
是一种电极被管壳周围包起来以保持低刨面的封装
形式
15
．例举出
7
种先进封装技术。（第二十章）（
10<
/p>
分）
7
种先进
封装技术包括：
（
1
）
倒装芯片
:
将芯片的有源面
（
具有表面键
合压点）面向基座的粘贴封装技术。
（
2
）球栅阵列（
BGA
）<
/p>
:
与针栅
阵列有相似的封装设计，
有陶瓷或塑料的基座构成基座具有用于连接
基座与电路板的共晶
Sn/Pb
焊料球的面阵列。
（
3
）
板上芯片
（
COB
）
:
被开发以集成
电路芯片直接固定到具有其它
SMT
和
PIH
组件的基座
.
.
上，又被称为直接芯片粘贴。
（
4
）卷带式自动键合（
TAB
）
:
是一种
I/O
封装方式，
它使用塑料袋作为新片载体。
（
5
）
多芯片模块
（
MCM
）
:
是一种将几个芯片固定在同意基座上的封
装形式。
（
6
）
芯片尺寸封装
（
CSP
）
:
一般定义是小于芯片占地面积
1.2
倍的集成电路封装形式。
（
7
）圆片级封装
:
是第一级互联和在划片前硅片上的封装
I/O
端得形
成。
第九章
集成电路制造工艺概括
1
．例举出芯片厂中
6
个不同的生产区域并对每一个
生产区域做简
单描述。（
20
分）
答：芯片厂中通常分为扩散区、光刻区、刻蚀区、离子注入区、薄
膜生长区和抛光区
6
个生产区域：
?
扩散区是进行高温工艺及薄膜积淀的区
域，
主要设备是高温炉和
湿法清洗设备；
②光刻区是芯片制造的心脏区域，
使用黄色荧光管照明，<
/p>
目的是将
电路图形转移到覆盖于硅片表面的光刻胶上；
③刻蚀工艺是在硅片上没有光刻胶保护的地方留下永久的图形；
④离子注入是用高压和磁场来控制和加速带着要掺杂的杂质的气
体；高能杂质离子穿透涂胶硅片的表面，形成目标硅片；
⑤薄膜生长主要负责生产各个步骤中的介质层与金属层的淀积。
.
.
⑥抛光，即
< br>CMP
（化学机械平坦化）工艺的目的是使硅片表面平坦
化。
2
．离子注入前一般需要先生长
氧化层，其目的是什么？（
10
分）
答：氧化层保护表面免污染，免注入损伤，控制注入温度。
<
/p>
3
．离子注入后为什么要进行退火？（
1
0
分）
答：推进，激活杂质，修复损伤。
4
．光刻和刻蚀的目的是什么？（
20
分
）
答：光刻的目的是将电路图形转移到覆盖于硅片表面的光刻
胶上，
而刻蚀的目的是在硅片上无光刻胶保护的地方留下永久的图形。
< br>即
将图形转移到硅片表面。
5
．
为什么要采用
LDD
工艺？它是如何减小沟道漏电流的？
（
10
分）
答：
沟道长度的缩
短增加了源漏穿通的可能性，
将引起不需要的漏
电流，所以需要
采用
LDD
工艺。轻掺杂漏注入使砷和
BF
2
这些较大
质量的掺杂材料使硅片
的上表面成为非晶态。
大质量材料和表面非
晶态的结合有助于维
持浅结，从而减少源漏间的沟道漏电流效应。
6
．为什么晶体管栅结构的形成是非常关键的工艺？更小的栅长会
引发什么问题
？（
10
分）
答：
因为它包括了最薄的栅氧化层的热生长以及多晶硅栅的刻印和
刻蚀，
而后者是整个集成电路工艺中物理尺度最小的结构。
多晶硅
栅的宽度通常是整个硅片上最关键的
CD
线宽。
.
.
随着栅的宽度不断减少，栅结构
（源漏间的硅区域）下的沟道长度
也不断减少。
晶体管中沟道长度的减少增加了源漏间电荷穿通的可
能性，并引起了不希望的沟道漏电流。
7<
/p>
、描述金属复合层中用到的材料？
(10
分
)
答：采用三明治金属结构，包括：
（
1
）
淀积
Ti
，
使钨塞和下一层金属良好键合，
层间
介质良好键合；
（
2
）
Al,Au
合金，加入铜抗电迁移；
（
3
）
TiN
作为下一次光刻的抗反射层；
8
、
STI
隔离技术中，为什么采
用干法离子刻蚀形成槽？
(10
分
)
答：采用干法刻蚀，是为了保证深宽比。
第十章
氧化
1
．二氧化硅薄膜在集成电路中具有怎样的应用？（
15
分）
①器件保护（
避免划伤和污染），因
sio2
致密；
②表面钝化（饱和悬挂键，降低界面态；需一定厚度，降低漏电流等）；
③用作绝缘介质和隔离（
LOCOS,STI
）如：隔离（如场氧，需要一定的厚度）、
④绝缘栅（膜厚均匀，无电
荷和杂质，需干氧氧化）、多层布线绝缘层、电容介
质等；
⑤选择性扩散掺杂的掩膜
.
.
2
.
说明水汽氧化的化学反应，水汽氧化与干氧氧化相比速度是快还
是慢？为什么？（
15
分）
化学反应：
Si+2H2O->SiO2+2H2
水汽氧化与干氧氧化相比速度更快，
因为水蒸气比氧气在二氧化硅中扩散
更
快、
溶解度更高
3.<
/p>
描述热氧化过程。（
20
分）
①干氧：
Si
＋
O2 SiO2
氧化速度慢，氧化层干燥、致密，均匀性、重复性好，与光刻胶
的粘附性好
②水汽氧化：
Si+H2O SiO2
（固）
+H2(
气
)
氧化速度快，氧化层疏松，均匀性差，与光刻胶的粘附性差
<
/p>
③湿氧：氧气携带水汽，故既有
Si
与氧
气反应，又有与水汽反应
氧化速度、氧化质量介于以上两种方法之间
4.
影响氧化速度的因素有哪些？<
/p>
(15
分
)
掺杂物、晶体晶向、压力、温度、水蒸气
5.
例举并描述热生长
SiO2
–
Si
系统中的电荷有哪些？（
15
分）
界面陷阱电荷、可移动氧化物电荷
6.
立式
炉系统的五部分是什么？例举并简单描述
(20
分
)
工艺腔、硅片传输系统、气体分配系统、尾气系统、温控系统
工艺腔是对硅片加热的场所，由垂直的石英罩钟、多区加热电阻丝和加热管
套
组成硅片传输系统在工艺腔中装卸硅片，自动机
械在片架台、炉台、装片台、冷
却台之间移动气体分配系统通过将正确的气体通到炉管中
来维持炉中气氛
控制
系统控制炉子所
有操作，如工艺时间和温度控制、工艺步骤的顺序、气体种类、
气流速率、升降温速率、
装卸硅片
第十一章
淀积
.
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