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边界扫描
背景
:
早在
1985
年，
几家欧洲的厂商为解决高
复杂度
IC
的测试问题，
成立了一个<
/p>
JETAG
（
Joint
European Test Action Group
）的
组织。稍后，包含
HP
（
Hewlet
t Packard
）及一些美商公司亦
加入了这个组织，
该组织更名为
JTAG
（
< br>Joint Test Action Group
）
。
JTAG
发展了
BOUNDARY-S
CAN
的技术，并于
1989
年将
BOUNDARY-SCAN
的
JTAG
Rev 2.0
版，移转给电机电子工程师协会
（
Institute Electrical and Electronic Engineers, IEEE
）
，并于
1990
年成为
IEEE Standard
1149.1-1990
。
定义
:
边界
扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的测试性结构设计方法。
所谓“边界”是指测试电路被设置在
IC
器件逻辑功能电路
的四周，位于靠近器件输入、输
出引脚的边界处。
所谓“扫描”
是指连接器件各输入、
输出引脚的测试电路实际上是一组串
行移
位寄存器，这种串行移位寄存器被叫做“扫描路径”
，沿着这条路径可输入由“0” 和
“1”组成的各种编码，对电路进行“扫描”式检测，从输出结果判断其是否正确。
结构
:
引脚
:
引脚
TDI
TDO
名
称
测试数据输入
测试数据输出
功
能
指令和测试编程数据的串行输入引脚。数据在
TCK
的上升沿移入。
指令和测试编程数据的串行输出引脚
，数据在
TCK
的下降沿移出。
如果数
据没有正在移出，
该引脚处
于三态。
该输入引脚是一个控制信号，
它决定
T
AP
控制器的
转换。
TMS
必须在
TCK
的上升沿之前建立，
在用户
状态下
TMS
应是高电
平。
时钟输入到
BST
电路，
一些操作发生在上升沿，
而
< br>另一些发生在下降沿。
低电平有效，用于初始化或复位
BST
电路。
TMS
测试模式选择
TCK
TRST
测试时钟输入
测试复位输入