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ICT测试介绍

作者:高考题库网
来源:https://www.bjmy2z.cn/gaokao
2021-02-13 16:42
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-

2021年2月13日发(作者:visionary)


自动在线测试仪,是现代电子企业必备的


PCBA(Printed- Circuit Board


Assembly


,印刷电路板 组件)生产的测试设备,


ICT


使用范围广,测量准确性


高,对检测出的问题指示明确,即使电子技术水准一般的工人处理有问题的

PCBA


也非常容易。使用


ICT


能极大地提高生产效率,降低生产成本。


2



ICT


Test

< p>
主要是


*


测试探针接触


P CB layout


出来的测试点来检测


PCBA


的线路开


路、短路、所有零件的焊情况


,

< p>
可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测


试、二极管测试、三极管测 试、场效应管测试、


IC


管脚测试


(t estjet` connect


check)


等其它通用和 特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板


开短路等故障,并将故障是哪 个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。


(


对组


件的焊接测试有较高的识别能力


) 3. ICT


设备的制造厂家各异,


Agilent


Technologies


(安捷伦)、


Terady ne


(泰瑞达)




POSSEHL




SAMSUNG(FARA)




雅达


T2 000




固纬


(GW)



SEICA




莹琦


(< /p>


WINCHY


)、


TAKAYA



Check Sum


(美国)、


Hioki



IFR



Takaya

(日


本)


,


Tescon


(日本泰士昆)


, Okano


(日本)、


Rohde & Schwarz



Scorpion



Shindenski



SPEA< /p>



Tecnost-MTI


< p>
Testronics



SYS

< br>(台湾系


统)、


Tr


(德利泰) 、


WK Test



JET


(捷智)、


Schuhll



Viper



TTI



SRC


(星河)、香港振华


Concord



等生产的


ICT

在国内都有应用。






其中市场认可度最高的是安捷伦


hp 3070



Teradyne


(泰瑞达 )、


Winchey


(莹琦)。



定义




< /p>


在线测试,


ICT


In-Circuit Test


,是通过对在线元器件的电性能及电气连


接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检

查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅


速、故 障定位准确等特点。





飞针


ICT


基本只进行静态的测试,优点是不需 制作夹具,程序开发时间


短。





针床式


ICT


可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率


高,但对每种单板需制作专 用的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。



范围及特点





检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。 能够定量地


对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压


器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路

< p>
进行功能测试,如所有


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系列、


Memory


类、常用驱动类、交换类等


IC






它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的


不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,


Memory


类的程序错误等。


对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚 焊,


PCB


短路、断线等故障。





测试的故障直接定位在具体的元件 、器件管脚、网络点上,故障定位准


确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制 的自动化测试,操作简


单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。



意义





在线测试通常是生产中第一道测试工序,能及时反应生产制造 状况,利于


工艺改进和提升。


ICT


测 试过的故障板


,


因故障定位准,维修方便,可大幅提高


生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重

要测试手段之一。



测试理论



基本测试方法





1.1


模拟器件测试





利用运算放大器进行测试。由


“A”




虚地< /p>



的概念有:






Ix = Iref





Rx = Vs/ V0*Rref




Vs


、< /p>


Rref


分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出


V0


,则


Rx


可求出。





若待测< /p>


Rx


为电容、电感,则


Vs


交流信号源,


Rx


为阻抗形式,同样可求出


C



L






1.2


隔离(


Guarding





上面的测试方法是针对独 立的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影


响,使


Ix



ref


,测试时必须加以隔离(


Guarding


)。隔离是在线测试的基本技


术。





在上电路中,因


R1



R2

< p>
的连接分流,使


Ix



r ef



Rx = Vs/ V0*Rref

< br>等式


不成立。测试时,只要使


G



F


点同电位,


R2

< br>中无电流流过,仍然有


Ix=Iref



Rx


的等式不变。将


G


点接地 ,因


F


点虚地,两点电位相等,则可实现隔离。实


际实用时,通过一个隔离运算放大器使


G



F


等电位。


ICT


测试 仪可提供很多


个隔离点,消除外围电路对测试的影响。


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